Planum-3000 光学元件光谱分析仪

    Planum-3000光学元件光谱分析仪⽤于快速测量各类平⾯光学元件的反射、透射光谱，可进⾏多⻆度绝对反射率、相对反射率、透射率测量，偏振光（S、P、(S+P)/2 ）测量，颜⾊测量等。

仪器特点

1. 可快速测量任意⻆度绝对反射率、透过率；
2. 样品检测范围⼴，实时导出样品数据及CIE颜⾊值；
3. 光学⽆损检测，检测速度极快，毫秒级。

测量对象

技术参数