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QSpec科思凯系列>> 透过反射率测试仪>>Sphere-3000光学元件反射率测量仪  

Sphere-3000 光学元件反射率测量仪

 

Sphere3000是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪,能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。

 

Sphere3000光学元件反射率测量仪-特点:

Ø         显微测定微小领域的反射率  物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm

Ø         CIE颜色测定  X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等

Ø         检测速度快  高性能探测器,能在几秒内实现重现性高的测定

Ø         消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率

 

Sphere3000光学元件反射率测量仪-技术参数

型号

Sphere-3000I型)

Sphere-3000III型)

检测范围

380~800nm

360~1100nm

波长分辨率

1nm

1nm

相对检测误差

1%

0.5%

测定方法

与标准物比较测定

被测物再现性

±0.1%以下(2σ)        380nm~410nm                                                    ±0.05%以下(2σ)      (410nm~800nm)

±0.1%以下(2σ)

(380nm~410nm)                                                    ±0.05%以下(2σ)

          (410nm~1100nm)

单次测量时间

1s

精度

0.3nm

被测物N.A.

0.12(使用10×对物镜时)                                                                                  0.24(使用20×对物镜时)                                                                                   

被测物尺寸

直径>1mm

厚度>1mm(使用10×对物镜时)

厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)

被测物

测定范围

φ60μm(使用10×对物镜时)                                                                            φ30μm(使用20×对物镜时)

设备重量

15kg(光源内置)

设备尺寸

300(W)×550(D)×570(H)mm

使用环境

 水平且无振动的场所

温度:23±5

        湿度:60%以下无结露;

操作系统

Windows XP, Windows VistaWin7

软件

分光反射率物体颜色单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定

尺寸

480*400*580mm

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