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TMS-320 透过率光谱分选仪

 

          TMS-320 透过率光谱分选仪是⼀台光学元件样品透过率批量测试设备,⾼精度电动位移平台⼤幅提升了样品测试速度,可⾃定义样品测量区域,并记录数据实现样品多孔/多点透过率⾃动测量,适⽤于⼿机⾯板的多孔测试、阵列滤光⽚的⾼通量测试、镀膜滤光⽚的质检、分级和均匀性检测。 

 

仪器特点

1. 单点检测速度快,毫秒级;
2. 毫⽶级小样品检测;
3. 超⼤⾏程(可定制)、⽀持样品⼤批量全检;
4. 可对样品进⾏质检、分级。

 

测试对象

 

技术参数

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