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QSpec科思凯系列>> 透过反射率测试仪>>TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪)  

TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪)

 

 

TMS是一套全波长的绝对透过率测量仪(ir透过率测量仪),能快速准确地测量各类平面、球面、非球面等光学元件的相/绝对透射率,可用于实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面、球面非球面光学元件及组合镜头等的检测。紫外透过率测量仪专为检测样品紫外波段透过率设计。

 

紫外透过率测量仪

 

显微透过率测量仪基于普通透过率测量仪的测试原理,增加显微光路和成像CCD对测试区域进行精确定位,用小尺寸光斑(0.3mm)测试样品微小区域的相/绝对透射率。除了可对玻璃、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的透过率检测之外,特别适用于手机盖板IR孔、菜单键、返回键等微小区域的透过率检测。

 

TMS透过率测量仪(ir透过率测量仪)-技术参数

型号

TMSI型)

TMS型)

TMSIII型)

探测器

Sony线形CCD 阵列

Hamamatsu背照2D-CCD

Hamamatsu2D-CCD

检测范围

380-1000nm

(紫外:200-850nm)

380-1100nm

(紫外:200-1100nm)

360-1100nm

(紫外:225-1000nm)

信噪比(全信号)

2501

450:1

10001

相对检测误差

0.6%410-900nm

0.4%410-1000nm

0.2%410-1000nm

检出限

0.1%

0.05%

0.01%

单次测量时间

1s

CCD制冷

未制冷

未制冷

-20

样品尺寸

≥ Φ1.5mm (显微:0.8nm)

光斑

可调,≥ Φ0.6mm(显微≥ Φ0.3mm

操作系统/接口

Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

电源/功率

220V-50HZ /6W

 

TMS透过率测量仪-独特的软件设计

l        智能化软件操作:可自定义测量方式和角度,实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据,自动调整显示坐标范围,高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。

l        谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图,批量保存测量结果,记录谱图测试积分时间,能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作,最大程度地方便了谱图的管理和分析。

l        自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案,同时设置判定标准,使检测更快速,结果更准确。

l        谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库,可根据数据库已存标准数据对比分析结果,用户可自行对数据库进行添加、修改和删除,还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。

l        CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数, xyL,a,b,饱和度,主波长等。

l        数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图,自定义测量报告出具单位名称。

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