TMS-Pro(单通道)

TMS-D(双通道)

透过率光谱分析仪

          TMS-PRO和TMS-D透过率光谱分析仪能快速准确地测量各类手机及Pad面板的透过率，可用于同一面板多个小孔测量，实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显示半透波长及透过率。

仪器特点

1. 采用大角度采集全穿透式测量；

2. 可对多孔进行快速测量； 

3. 采用数字视频对焦，使微小区域实现精准测量；

4. 实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长检测，自动调整显示坐标范围，可对批量样品进行高效检测及谱图对比分析；

5. 可自定义测量方案，设置判定标准，自动判定"OK"和"NG”,使检测更快速，结果更准确；

6. 高性能探测器，单次测量小于1秒，重复性高；

7. 最小测量孔径可达φ0.2mm。

应用领域

>> 手机面板IR孔、隐藏孔、雾化孔、闪光灯孔透过率测量；

>> 弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜、平行平板透过率测量；

>> 太阳膜、滤光片光学元件透光测量。

技术参数